Dziękujemy! Rejestracja zakończona pomyślnie.
Skorzystaj z linku z wysłanego e-mailem na adres
Moskwa na anglojęzycznej mapie Rosji - Sputnik Polska, 1920
Świat
Aktualne wiadomości ze świata. Poznaj najnowsze informacje o wydarzeniach międzynarodowych. Znajdziesz u nas aktualności dnia, ciekawe fakty, newsy, relacje na żywo.

Wyśmiano Wywiad Narodowy USA za wyretuszowane zdjęcie pracowników

© AP Photo / David PhillipFlaga USA
Flaga USA - Sputnik Polska, 1920, 10.07.2021
Subskrybuj nas na
Biuro Dyrektora Wywiadu Narodowego (ODNI) znalazło się w ogniu krytyki po opublikowaniu raportu na temat wyników inkluzywnej polityki personalnej w ciągu ostatniego roku.
Oburzenie wywołała okładka dokumentu, na której przedstawiono pracowników ubranych w stylu biznesowym.
Jak się później okazało, agencja wykorzystała zdjęcie stockowe, a następnie wyretuszowała je i dodała do niego sylwetki osób niepełnosprawnych. Chodzi o kobietę na wózku inwalidzkim oraz mężczyznę z laską i psem przewodnikiem.
Najgorsze wykorzystanie Photoshopa w tym roku – napisał Asaad Hanna.
„Różnorodność istnieje tylko w fotografii stockowej. Menedżerzy do wynajęcia zatrudniają swoje klony” – stwierdził Nothindoin.
„Założę się, że gdzieś na ich stronie internetowej jest napisane: „Nasza organizacja zapewnia równe szanse i nie dopuszcza dyskryminacji ze względu na rasę, płeć itp.” – szydzi inny komentator.
Kolejny czytelnik zażartował, że ten sam „przerobiony w Photoshopie” facet w okularach i z psem przewodnikiem był zaangażowany w tworzenie tego zdjęcia.
„Nasz rząd jest kiepski absolutnie we wszystkim, oprócz wojny” – dodał Seattle_FTW .
Szczyt Rosji i USA w Genewie 16 czerwca - Sputnik Polska, 1920, 27.06.2021
Polityka
Media: wywiad USA podejrzewa Rosję o ataki z „ukierunkowaną energią”
Inna użytkowniczka stwierdziła, że mogłaby lepiej przerobić to zdjęcie „pomimo swojego wieku i braku umiejętności w Photoshopie”.
Aktualności
0
Od najnowszychOd najstarszych
loader
Aby wziąć udział w dyskusji,
zaloguj się lub zarejestruj się
loader
Czaty
Заголовок открываемого материала